薄膜厚度測(cè)量
薄膜輪廓與粗糙度測(cè)量
減震消磁系統(tǒng)
薄膜電性測(cè)量設(shè)備
薄膜力學(xué)性能測(cè)量
粒度分析儀
SZ-100V2HORIBA 納米顆粒分析儀
F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀
K系列Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x
B系列Bowman XRF高精度鍍層測(cè)厚儀
iMicroKLA 納米壓痕儀
iNanoKLA 納米壓痕儀
R54KLA四探針電阻率測(cè)量?jī)x
R50KLA 四探針電阻率測(cè)量?jī)x
F54-XYT-300Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀
Auto SEHORIBA 橢圓偏振光譜儀
Smart SEHORIBA 橢圓偏振光譜儀
UVISEL PlusHORIBA 研究級(jí)橢圓偏振光譜儀