
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀
簡要描述:Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設備,能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆弱或敏感材料,具備納米級分辨率,測量范圍廣(1nm-3mm)。該儀器適用于多種應用場景,包括半導體、光學、生物醫(yī)學等領域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內提供準確的測量結果,支持單層及多層薄膜分析,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
產(chǎn)品型號:F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
廠商性質:代理商
更新時間:2025-06-24
訪 問 量:517
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數(shù)秒內得到測量結果?;谀K化設計的特點,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品特點:
非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;
高精度與寬量程&:垂直分辨率達納米級,可測厚度范圍從1nm至3mm;
多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內即可完成測量。
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀測量原理:
當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀膜層范例:
薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學常數(shù)、均勻性、刻蝕量等
薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣
薄膜狀態(tài):固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量
薄膜結構:單層膜、多層膜;平面、曲面
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀常見工業(yè)應用:
半導體膜層 | 顯示技術 | 消費電子 | 派瑞林 |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍: | 380-1050nm | 光源: | 鹵素燈 |
厚度測量范圍: | 15nm-70um | 測量精度: | 0.02nm |
光斑大?。?/span> | 1.5mm | 樣品臺尺寸: | 1mm-300mm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 |