 
                                    Filmetrics 單點光學膜厚測量儀
簡要描述:無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計的特點,F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。
 產(chǎn)品型號:F20 產(chǎn)品型號:F20
 廠商性質(zhì):代理商 廠商性質(zhì):代理商
 更新時間:2025-06-24 更新時間:2025-06-24
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Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀

Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀K化設(shè)計的特點,Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品特點:
- 非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料; 
- 高精度與寬量程&:垂直分辨率達納米級,可測厚度范圍從1nm至3mm; 
- 多場景適用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。 
- 測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。 
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀測量原理:
當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀膜層范例:
- 薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學常數(shù)、均勻性、刻蝕量等 
- 薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣 
- 薄膜狀態(tài):固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量 
- 薄膜結(jié)構(gòu):單層膜、多層膜;平面、曲面 
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀常見工業(yè)應(yīng)用:
| 半導體膜層 | 顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 | 
| 光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 | 
| 介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 | 
| 砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學器械 | 
| 微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 | 
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產(chǎn)品參數(shù):
| 波長范圍: | 380-1050nm | 光源: | 鹵素燈 | 
| 厚度測量范圍: | 15nm-70um | 測量精度: | 0.02nm | 
| 光斑大?。?/span> | 1.5mm | 樣品臺尺寸: | 1mm-300mm | 
| 更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀測量圖:







